DX-102便携式数字高斯计可用于测量直流磁场、辐射磁场、剩磁、地球磁场等等各类磁场的磁感应强度。量程：30.0mT，300mT，3000mT三档； 电池：低压6V（四节AA电池）供电设计；准确度优于：1T以下1.0%，1T以上2.0%；外观尺寸：170mm×90mm×40mm。

DX-102F高斯计用于测量交流直流磁场、永磁材料表面磁场、直流电极、磁选机、永磁除铁器的工作磁场。 直流测量量程：30kG、6kG、600G；交流测量量程：3.6kG、120G；

DX-103手持高斯计可用于测量交直流 空间磁场、永磁体表磁、地球磁场等等各类磁场的磁感应强度。其特点有：
体积小，重量轻，便于携带，操作方便快捷；
功能完善，能准确测量交流和直流磁场、扫描保持正负峰值、宽范围自动量程、0.1Gs分辨率、软件非线性修正、电池电量显示等功能；
180°屏幕显示可视，日光下屏幕显示可视；

DX-103高斯计可用于测量交直流磁场、辐射磁场、剩磁、地球磁场等等各类磁场的磁感应强度；量程：200.0mT，2000mT二档；磁场最小分辨率：0.01mT（0.1Gs）；电源：220V±20V/0.5A，50Hz；准确度优于：1.0%（对应每档满量程）；体积：180mm×90mm×248mm。

DX-1205F数字高斯计可用于测量直流磁场、辐射磁场、剩磁、地球磁场等等各类磁场的磁感应强度。量程范围：±1000Gs/±3000Gs/±10000Gs /±30000GS四档；准确度：满量程优于0.3%；最小分辨率： 0.01Gs；输入电压：220V 50Hz；外型尺寸：304x260x120 (长 * 宽 * 高)。

DX-130全数字高斯计是集测试,存储,工控,通讯为一体的自动化仪表。适合要求较高精度, 较高分辨率的磁场测试应用。简捷的面板及全菜单操作，4¾位分辨率读数,较高分辨率1/60000，优秀的稳定性使末位最大漂移为一个字，最大量程30KG(3T)，其大容量数据存储及数据阅读可按存储时间查询。适合全方位的直流磁场测量，数字RS -232接口，广泛的指令集用于二次开发。

DX-150全数字高斯计可以测试交流直流磁场，最大量程30KG(3T)，全菜单操作，自动校零，自动量程，4¾位读数，高分辨率 1/60000，使您在高磁场测量时能观查到 0.01mT 的微弱变化。保持模式可选极大值，极小值，仪表可同时测量和显示 7种参数。测量单位可选高斯，特斯拉。仪表带 RS-232C / U S B接口可实时发送数据给上位机。按照 ISO-9000 标准设计及生产。

DX-160全数字高斯计/特斯拉计可以测试交流直流磁场，最大量程±30KG(3T)，全菜单操作，5 ¾位读数,极高分辨率1/600000，使您在高磁场测量时能观查到0.0001mT的微弱变化。其具有大容量数据存储及存储数据阅读并可按存储时间查询，专业绘图软件可据磁场强度绘制图表。仪表可同时测量和显示 6种参数，实现测试,存储,通讯自动化一体机。

DX-180型全数字高斯计测量范围从直流到100KHZ的交流磁场。自动校零，自动量程。保持模式可选极大值，极小值，峰值和谷值。明亮的VGA彩色图形显示,测量图形显示，高斯计自绘图，全菜单操作，7位读数,极高分辨率达1/600000,分辨力达0.01μT,最大量程300KG(30T)。基本精度±0.05%,大容量数据存储及数据阅读可按存储时间查询，并上传或自行绘图。

DX-190高斯计极高精度的仪表适合绝大数的应用领域。自动较零，自动量程。保持模式可选极大值，极小值，峰值和谷值。仪表可同时测量和显示多种参数。带高精度的模拟输出（±3.0V）。测量单位可选Gs,mT,A/M或Oe。仪表带USB-232、BNC、CAN、工控接口。高分辨率电容触摸彩色图形显示,测量图形显示，高斯计自绘图，全菜单操作，6位读数,分辨率0.1μT,最大量程30T,基本精度±0.05%。标配高斯计绘图软件PC版，标配具有温度补偿的高精度数字化探头。可选安卓版手机APP端通讯实现测试,存储,通讯,绘图，远程控制自动化一体机，高精度高速数字与模拟信号输出。

DX-210高斯计测量范围从直流到50KHZ的交流磁场。,最大量程300KG(30T)。它集成了二台高精度高斯计,可配二维探头测试二维空间磁场和二个一维探头分别测试。全菜单操作，5 ¾位读数,极高分辨率1/600000,使您在高磁场测量时能观查到0.0001mT的微弱变化；实现测试,存储,通讯自动化一体机，先进的二维运算方式，使他在材料分析和磁场绘制应用上极具价值。

DX-350三维数字高斯计采用先进的ARM微处理技术，并通过多通道同步采集与处理技术，可同时显示x，y，z三个方向的磁感应强度，并自动计算和 显示Bxyz矢量叠加值。仪器具最大值，最小值，峰值等锁定功能，DX-350三维数字高斯计配备TFT真彩显示屏和7位数字显示，在3T量程下具有0.01Gs的 超高分辨率显示特性。

DX-360三通道高斯计是目前世界上先进的高斯计，使用了磁场测量的最新技术。高分辨率（0.1mG 10nT），高精度（±0.05%）高频率（0-100KHz)，探头宽温区（-269-200ºC）VGA大屏幕高速显示，可实时图形显示测试结果。它的面板操作非常容易，具有很好的人机交流界面。所有的选择可以通过面板上的操作按扭来实现。VGA显示器可以同时或随意选择显示每一个通道的多种不同的测量值：磁场密度，矢量叠加值和角度,频率，温度，最大值，最小值，峰值，谷值，日期，时间。

横向探头，通常为长方形，测试区域为前端一毫米处；主要适用于空间磁场，表磁测量或交变脉冲磁场测量；具有高线性度，低温度系数，高稳定性，高重复性等特点；多种标配尺寸，可定制长度，宽度与厚度 ；也可定制在特殊领域下的磁场测量探头，如高温，低温或高频等。

轴向探头，通常为圆形，测试区域为前端一毫米处；主要适用于空间磁场，表磁测量或交变脉冲磁场测量；具有高线性度，低温度系数，高稳定性，高重复性等特点；多种标配尺寸，可定制长度，宽度与厚度 ；也可定制在特殊领域下的磁场测量探头，如高温，低温或高频等。

探头长度可定制
可以探头内加装温度传感器
可组合陈列探头
交货期为1-2周

砷化镓霍尔器件三维探头主要适用于空间磁场，表磁测量或交变脉冲磁场测量；多种标配尺寸，可定制长度，宽度与厚度 ；也可定制在特殊领域下的磁场测量探头，如高温，低温等。

DX-201数字磁通计是采用低漂移电子积分器件设计和生产的精确磁测量仪器；量程：20.00mWb，2.000mWb两档；磁场最小分辨率：0.001mWb；测试响应完全，在测试过程中不丢失数据是该设备的最大特点。在使用提拉法测试样品的磁通过程中，快拉慢拉数据都能吻合，重复测量以及回复测试，尤显优良特性。

DX-201氧化皮无损检测仪是公司研制的专用电厂氧化皮检测仪器，该仪器是采用专利技术设计测试探头，结合通用的磁通计。一方面可以快速有效地检测电厂锅炉不锈钢管内部氧化皮剥落堆积状况，排除不锈钢管氧化皮过多而导致爆管；另一方面还可以通过不锈钢管内部氧化皮的检测，给锅炉不锈钢管受热面的整体氧化腐蚀状态提供有效的数据支持，从而帮助实现对锅炉的安全评估。

磁铁的品质管理、磁气电路内磁铁饱和状态、以及多级磁体磁通总量的测量等

DX-100 霍尔效应系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。为本仪器系统专门研制的DX-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。DX-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。

DX-50霍尔效应测试系统适用于研究半导体器件和半导体材料电学特性。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁致电阻等等参数。霍尔效应系统由电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品安装架、系统软件组成。

DX-60霍尔效应测试系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件组成。为本仪器系统专门研制的DX-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。DX-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等等。

DX-30永磁体霍尔效应测试系统由永磁体、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高精度高斯计和系统软件组成。为本仪器系统专门研制的DX-320效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。DX-320可单独做恒流源、微伏表使用。用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率 (Mobility)、电阻率 (Resistivity)、 霍尔系数 (Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等。