DX-30SST 铁损耗测试仪

DX-30SST 铁损失仪采用单片机技术和模拟电子技术,渗透仪的磁路采用低损耗硅钢铁芯,它是一个小测试仪测量硅钢片的特点,满足的需求跟踪硅钢片的品牌。

铁损耗测试仪

工作原理及应用:

DX-30SST硅钢片铁损失仪采用单片机技术和模拟电子技术,渗透仪的磁路采用低损耗硅钢铁芯,它是一个小测试仪测量硅钢片的特点,满足的需求跟踪硅钢片的品牌。
硬件电路的设计是按照中国行业标准(GB / 3655-2000),通过实时采样对二次感应电压V和一次激励电流I进行补偿,使空气达到1.0mV以下。采用了波形反馈技术,保证了系统的可靠性

 

功能:

定向和非定向硅钢的闭路磁通仪的精确测量
单片定子P1.5/50开路磁导仪损耗测量
闭环测量可以锁定磁感应Bm,然后测量Ps;
闭环测量可以锁定励磁磁强度Hm,然后测量磁感应Bm;
闭路磁通计实现零磁通补偿;
微方形延续了标准方形;
直接在面板上操作,一机可完成设定值测试;

 

技术指标:

输入电压:220V±20V/0.5A, 50Hz
输出电压:15V/1.5A (50/60Hz)
饱和磁感应Bm设置范围:500mT~1900mT
励磁磁强设置范围Hm: 100A/m~10000A/m
Ps精度:2.0%,Bm精度:2.0%

 

选配:

开路磁导仪:适用于成品硅定子的单片测试。可直接在P1.5/50下测试,准确度为5.0%。
闭路磁通仪:适用于长度150mm以上、宽度20mm ~ 30mm的单片硅定子的精确测量。
DX-30SST测试软件:实现磁滞回线、退磁曲线、Ps、Bm、Br、Hc、ua、δ等的测量。

 

软件测试界面:

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